电子异物分析质量FTIR异物研究

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快速判断异物或杂质的成分,分析产生原因,进行整改提升产品良率,消除生产隐患,保障生产的稳定性.异物分析，是专门分析产品上的微小嵌入异物或表面污染物、析出物进行之成分的技术。例如对表面嵌入异物、斑点、油状物、喷霜等异常物质进行定性分析，

异物分析通常是指针对产品上的外来不明物质、表面污染、析出物等进行分析的检测技术。通过分析异物的成分，找到异物的来源，从而找到改善的方法。

异物分析的方法目前主要有主要有红外光谱法(FTIR)和扫描电镜/能谱仪法(SEM/EDS)，这两种方法是分别针对不同的异物的。

红外光谱法

红外光谱定性是根据红外光谱官能团的吸收峰来确定物质的结构（主要是有机化合物）。红外谱图纵坐标表示吸光率（A）或透过率（T%），横坐标表示波数（cm-1），通过不同的官能团在不同的波数段出峰以及峰形可以解析出物质的结构，从而得到化合物的种类。对于一些常见的化合物可以通过与谱库中的谱图进行匹配从而得到成分组成。对于异常情况的分析，通常采用的是显微红外法。由于显微镜的作用，相对于普通红外法，显微红外具有样品量少、无损、操作简便等优点。

2. 扫描电镜/能谱仪法(SEM/EDS)

扫描电镜/能谱仪法(SEM/EDS)是通过扫描电镜/能谱仪（SEM/EDS）对异物或异常部位扫描，得到元素种类及其含量。通过扫描电镜（SEM）可以观察样品各种凹凸不平表面的细微结构形貌，同时从能谱仪可以得到元素的种类及含量。

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